4月28日，JACC发布的一项有关全皮下植入式心脏转复除颤器（S-ICD）研究的两年数据表明，S-ICD消除室性心动过速（VT）或室颤（VF）的成功率较高。

　　研究者芝加哥大学的Martin Burke及其同事对两项大型相关前瞻性研究中共计882例应用S-ICD治疗的患者之数据进行了荟萃分析，结果显示，70%的患者采用S-ICD进行一级预防；13.7%的患者既往曾应用过经静脉植入的ICD，其中63%发生了需要移除设备的感染；仅0.4%的患者因需要进行抗心动过速起搏（ATP）或心脏再同步治疗（CRT）而转为植入常规ICD。采用S-ICD电击一次可使90.1%的VT/VF得以消除，电击5次可使高达98.2%的VT/VF得以消除。就并发症而言，应用S-ICD后30天内并发症发生率为4.5%，采用Kaplan-Meier 法估计的1型并发症3年发生率为5.4%。植入S-ICD后并无血管内并发症发生，最常见的并发症是感染，其中1.7%需要移除设备。不过，可喜的是随着术者的经验积累，感染发生率会有所降低。

　　总的来说，S-ICD应用后两年内都比较安全，并发症发生率无大的波动。就死亡率而言，植入S-ICD两年时为3.2%，不劣于近期有关ICD的相关试验结果。就不适当电击而言，植入S-ICD一年时发生率为13.1%，但随着时间的推移，操作者对设备应用更具经验，不适当电击发生率会有所降低。

　　纽约州立大学布法罗分校的Anne Curtis及Hiroko Beck评论指出，S-ICD是安全有效，并具有植入简单、创伤小优势，可适用于很多患者。但是，其缺乏心内膜电极故不能实施ATP。因此，对<170次/分的VT患者而言，可选择ATP进行无痛终止。另外，S-ICD并不适用于因心动过缓、房室传导阻滞需要进行起搏治疗或是需要进行CRT的患者。

　　原文标题：Two-Year Data Confirm Efficacy， Low Complication Rate With Subcutaneous ICD

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